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美國德斯科DESCO19640重錘電極靜電電阻測(cè)試儀Vermason Surface Resistance Checker
日期：2014-02-17瀏覽：2448次
美國德斯科DESCO19640重錘電極靜電電阻測(cè)試儀Vermason Surface Resistance Checker功能：測(cè)量物表面電阻/表面電阻率, 體積電阻/體積電阻率, 接地電阻
美國德斯科DESCO19640靜電電阻測(cè)試儀特點(diǎn)
彩色LED燈指示測(cè)試結(jié)果
測(cè)量范圍: 10^3-10^12?
自動(dòng)選擇10V/100V測(cè)試電壓
單表使用, 背部平行電極測(cè)試表面電阻率
外接重錘電極測(cè)試點(diǎn)到點(diǎn)電阻
美國德斯科DESCO19640重錘電極靜電電阻測(cè)試儀訂購信息
19640 單表, 背面平行電極測(cè)試表面電阻率
19640 KIT 套件, 包含以下物品
19640測(cè)試表, 1個(gè)
2.3公斤重錘電極, 2個(gè)
測(cè)試連接線, 2條
手提箱, 1個(gè)
選配
222003同心圓重錘電極 測(cè)試表面電阻和表面電阻率
832鉗形電極 測(cè)試管材和不規(guī)則物體電阻
844兩點(diǎn)小電極 測(cè)試微小物體電阻
222004 POM絕緣板, 用于放置試樣, 防止泄漏
222005 不銹鋼底盤, 用于測(cè)試體積電阻
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- 美國BK PRECISION
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 梅特勒METTLER
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
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